平成27年度 『走査型電子顕微鏡 日本電子JSM-7001FA 利用講習会のご案内』

投稿日時 2015-5-25 5:55:00 | トピック: 部門からのお知らせ

この度、共同利用機器である走査型電子顕微鏡「日本電子JSM-7001FA」の
利用拡大と機器の操作に対する理解を図るため、利用者講習会を開催するこ
とに致しました。
本講習会は2時間半程度です。機器の概要説明、試料の準備の概略、機器の
調整の仕方、基本的な観察の練習を予定しています。
本機器の利用にあたっては当部門の講習を受けることが必要となりますので、
本機器を利用される予定がある方は是非ご参加ください。
本講習会に参加できない場合は個別にご相談ください。
実際に機器を操作しながらの講習となりますので、申し込み多数の場合は
人数を調整させていただきますので予めご了承下さい。

尚、「JSM-7001FA」は平成20年度から22年度まで文部科学省の特別教育研究
経費および島根大学プロジェクト研究推進機構の支援を受けて行われた通称
「たたらプロジェクト」により導入されました。


ご希望の方は、
島根大学総合科学支援センター物質機能分析部門
林 泰輔 総合理工学部1号館大学院棟207室
内線3060,e-mail:thayashi@riko.shimane-u.ac.jp
まで下記雛形をもとにEメールでお申し込みください。

注)本年度は混雑が予想されます。3~7名程度まとめて申込みいただける
場合は適宜都合の良い日程で講習を行いますのでご連絡ください。

        記

日時:
6月1日(月)10~13時,14~17時
6月2日(火)10~13時(午前のみ)
6月3日(水)10~13時,14~17時
内容は同じです。各回7名までの先着順となります。

場所:総合理工1号館大学院棟1階106(南側)
内容:機器の説明,基本操作
対象者:本学の教職員,博士前期および後期課程の大学院生
 (院生分の申込は担当教員が行ってください)
申込締め切り期限: 5月28日(木)17:00

【走査型電子顕微鏡 JSM-7001FAの概要】

収束した電子線ビームで試料表面を走査し、その際生じた2次電子や反射
電子を検出することによって像を得ます。主に良導体である金属を対象と
した機種ですが、コーティングなどによって絶縁体への応用も可能です。
本機器ではサーマル電界拡散型電子銃により高倍率観察が可能です。
同時に高輝度ビームにより高速なEDS(エネルギー分散型分光)による
元素分析や、EBSD(電子後方散乱回折)による局所結晶方位解析も可能です。
試料ステージは最大30mm径で、自動駆動装置による直観的な操作を可能に
しています。


=====以下メール送付用の雛形=====

受講希望者氏名:
受講希望者氏名のふりがな:
受講希望者の職名または学年:
受講希望者合計人数:  名
*以上は希望者が複数の場合,全員分記入してください。
連絡先電話番号(内線等):
申込者氏名:
申込者氏名のふりがな:
所属部局と研究室(研究グループ):
代表責任者氏名:
(研究室であれば研究室の教員、複数の教員を含むグループであれば
教員の中から代表を一人決めて下さい)

希望日時:(以下記入例。参加可能な日程をすべて記入して下さい)
6月1日(月)不可
6月2日(火)午前
6月3日(水)午前,午後

=====雛形終わり=====


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