平成26年度 『走査型電子顕微鏡 日本電子JSM-7001FA 利用講習会のご案内』

投稿日時 2014-5-21 2:21:00 | トピック: 部門からのお知らせ

総合科学研究支援センターでは、平成20年度より走査型電子顕微鏡
「日本電子JSM-7001FA」を導入し、共同利用機器としての運用を行っています。
この度、利用者の拡大と装置の操作に対する理解を図るため、利用者講習会を
開催することに致しました。本講習会で実験操作に十分に習熟したと認められ
た方には、自ら電子顕微鏡を操作できる使用許可を与えたいと考えています。
講習会は2時間半程度です。装置の概要説明、試料の準備の概略、装置の調整の
仕方、基本的な観察の練習を予定しています。実際に装置を操作しながらの
講習となりますので、申し込み多数の場合は人数を調整させていただく場合が
あります。予めご了承下さい。

尚、「JSM-7001FA」は平成20年度から22年度まで
文部科学省の特別教育研究経費および島根大学プロジェクト研究推進機構の
支援を受けて行われた通称「たたらプロジェクト」により導入されました。


ご希望の方は、
島根大学総合科学支援センター物質機能分析部門
林 泰輔 総合理工学部1号館大学院棟207室
内線3060,e-mail:thayashi@riko.shimane-u.ac.jp
まで下記雛形をもとにEメールでお申し込みください。
(教職員のみ。院生分の申込は担当教員が行ってください)。
ご不明な点がありましたら林までお問い合せください。



日時:
6月10日(火)午前枠は9~12時,午後枠は13~16時
6月11日(水)午前枠は9~12時,午後枠は13~16時
内容は同じです。何れかにご参加ください。

場所:総合理工学部3号館122号室(1階南側)
内容:装置の説明,基本操作
対象者:本学の教職員,博士前期および後期課程の大学院生
 (院生の申込は担当教員が行ってください)
申込締め切り期限: 6月5日(木)17:00
【走査型電子顕微鏡 JSM-7001FAの概要】

収束した電子線ビームで試料表面を走査し、その際生じた2次電子や反射
電子を検出することによって像を得ます。主に良導体である金属を対象と
した機種ですが、コーティングなどによって絶縁体への応用も可能です。
本装置ではサーマル電界拡散型電子銃により高倍率観察が可能です。
同時に高輝度ビームにより高速なEDS(エネルギー分散型分光)による
元素分析や、EBSD(電子後方散乱回折)による局所結晶方位解析も可能です。
試料ステージは最大30mm径で、自動駆動装置による直観的な操作を可能に
しています。


=====以下メール送付用の雛形=====


受講希望者氏名:
受講希望者氏名のふりがな:
受講希望者の職名または学年:
受講希望者合計人数:  名
*以上は希望者が複数の場合,全員分記入してください。
連絡先電話番号(内線等):
申込者氏名:
申込者氏名のふりがな:
所属部局と研究室(研究グループ):
代表責任者氏名:
(研究室であれば研究室の教員、複数の教員を含むグループであれば
教員の中から代表を一人決めて下さい)

希望日時:(以下は記入例)
6月10日(火)不可
6月11日(水)午前,午後

=====雛形終わり=====




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