『走査型電子顕微鏡 日本電子JSM-7001FA 利用講習会』のご案内

投稿日時 2011-4-26 5:41:01 | トピック: 分野からのお知らせ

   『走査型電子顕微鏡 日本電子JSM-7001FA 利用講習会のご案内』

総合科学研究支援センターでは、平成20年度より走査型電子顕微鏡「日本電子JSM-
7001FA」を導入し、共同利用機器としての運用を行っています。この度、利用者の拡大
と装置の操作に対する理解を図るため、利用者講習会を開催することに致しました。
本講習会で実験操作に十分に習熟したと認められた方には、自ら電子顕微鏡を操作で
きる使用許可を与えたいと考えています。講習会は3時間程度です。装置の概要説明、
試料の準備の概略、装置の調整の仕方、観察の仕方、EDSおよびEBSDの使用法など
を予定しています。
実際に装置を操作しながらの講習となりますので、申し込み多数の場合は人数を調整
させていただく場合があります。予めご了承下さい。

ご希望の方は、
森戸 茂一(総合理工学部3号館510室,内線6102,e-mail:mosh@riko.shimane-u.ac.jp)
までメールでお申し込みください。また、ご不明な点がありましたら森戸までお問い合せ
ください。



日時:
 5月23日(月)13:00~16:00
 5月26日(木)13:00~16:00
場所:総合理工学部大学院棟1階106(南側)
内容:
 装置の説明,試料の作製,試料の挿入,観察,EDSおよびEBSDの使用法
対象者:
 本学の教職員,博士前期後期課程の学生
申込締め切り期限:
 5月13日(金)17:00


【走査型電子顕微鏡 日本電子JSM-7001FA -装置の概要-】

細い電子線ビームで試料表面を走査し、電子線を当てた座標からの2次電子や反射
電子の放出を検出することによって像を得る電子顕微鏡です。観察範囲全体に電子線
を当てて電子線の透過像,干渉像および回折図形を観測する透過型と異なり、試料の
表面観察に有効で比較的手軽に行える利点があります。
本装置ではサーマル電界拡散型電子銃や開き角自動最適化レンズなどの搭載によ
り100万倍の高倍率を,30mm 径の試料の観察が可能な5軸モーター駆動ステージに
よりスムーズな操作性を実現しています。また、EBSD 【後方電子回折図形】局所結晶
方位解析装置・EDS 【エネルギー分散型X線分析】 元素分析装置が附属しており、直
径1.2nmの電子線プローブを併用することにより試料の微細構造観察はもちろんの事、
ナノスケールの微小領域においてEBSDによる結晶方位の局所解析やEDSによる局所
領域の定量分析が容易に行えます。



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