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共同利用機器
分野からのお知らせ : 『走査型電子顕微鏡/後方電子回折図形を用いた局所方位解析法勉強会のご案内』
投稿者: matana 投稿日時: 2009-7-27 4:42:33 (2242 ヒット)

『走査型電子顕微鏡/後方電子回折図形を用いた
局所方位解析法勉強会のご案内』

総合科学研究支援センターでは、平成20年度より走査型電子顕微鏡
(SEM)「日本電子JSM-7001FA」を導入し、共同利用機器としての運
用を始めております。本装置には後方電子回折図形解析装置(EBSD)
が付属しており、組織と一対一に対応した結晶方位解析が可能です。
このEBSDは材料開発に有用なのですが、原理や得られるデータについ
てあまり知られていません。そこで、今回EBSDについての勉強会を開
催することに致しました。内容は基本的な原理,得られる情報,およ
び実際の適用事例についての解説です。対象者は学内に限りません。
現在SEM/EBSDを使用されている方,これから使用する方,結晶方位解
析やSEM/EBSD法に興味のある方,参加をお待ちしています。



日時:
 8月10日(月)10:00~11:30
場所:
  総合理工学部1号館2階 第3会議室
プログラム:
 「SEM/EBSD法による組織解析の基礎」
   講師: 森戸茂一(総合理工学部物質科学科)
 「EBSD適用事例の紹介」 
   講師: 北川裕之(総合理工学部物質科学科)
対象者:
 SEM/EBSP法を使用する予定のある方もしくは興味のある方

ご不明な点がありましたら、森戸 茂一(総合理工学部3号館510室,
内線6102,e-mail:mosh@riko.shimane-u.ac.jp
)までお問い合わせください。

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Materials Analysis Division, ICSR, Shimane University 2008