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共同利用機器
分野からのお知らせ : 『走査型電子顕微鏡 日本電子JSM-7001FA 利用講習会のご案内』
投稿者: matana 投稿日時: 2009-7-24 2:34:29 (3432 ヒット)

『走査型電子顕微鏡 日本電子JSM-7001FA 利用講習会のご案内』

総合科学研究支援センターでは、平成20年度より走査型電子顕微鏡「日本電子JSM-7001FA」
を導入し、共同利用機器としての運用を始めております。この度、利用者の拡大と装置の操
作に対する理解を図るため、利用者講習会を開催することに致しました。
本講習会で実験操作に十分に習熟したと認められた方には、自ら電子顕微鏡を操作できる使
用許可を与えたいと考えています。講習会は1日です。装置の概要説明、試料の準備の仕方、
装置の調整の仕方、観察の仕方、EDSおよびEBSDの使用法などを予定しています。実際に装
置を操作しながらの講習となりますので、申し込み多数の場合は人数を調整させていただく
場合があります。予めご了承下さい。

ご希望の方は、
森戸 茂一(総合理工学部3号館510室,内線6102,e-mail:mosh@riko.shimane-u.ac.jp)
までメールでお申し込みください。また、ご不明な点がありましたら森戸までお問い合わせ
ください。



日時:
 8月11日(火)10:00~16:00
場所:
 総合理工学部大学院棟1階106(南側)
内容:
 装置の説明,試料の作製,試料の挿入,観察,EDSおよびEBSDの使用法
対象者:
 本学の教職員,博士後期課程の学生
申込締め切り期限:
 7月31日(金)17:00


**走査型電子顕微鏡 日本電子JSM-7001FA -装置の概要- ***

 細い電子線ビームで試料表面を走査し、電子線を当てた座標からの2次電子や反射電子の
放出を検出することによって像を得る電子顕微鏡です。観察範囲全体に電子線を当てて電子
線の透過像,干渉像および回折図形を観測する透過型と異なり、試料の表面観察に有効で比
較的手軽に行える利点があります。
 本装置ではサーマル電界拡散型電子銃や開き角自動最適化レンズなどの搭載により100万倍
の高倍率を,30mm径の試料の観察が可能な5軸モーター駆動ステージによりスムーズな操作
性を実現しています。
 また、EBSD【後方電子回折図形】局所結晶方位解析装置・EDS【エネルギー分散型X線分析】
元素分析装置が附属しており、直径1.2nmの電子線プローブを併用することにより、試料の微
細構造観察はもちろんの事、ナノスケールの微小領域においてEBSDによる結晶方位の局所解
析やEDSによる局所領域の定量分析が容易に行えます。
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Materials Analysis Division, ICSR, Shimane University 2008