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共同利用機器
分野からのお知らせ : 『電子顕微鏡JEM-2010 利用講習会のご案内』
投稿者: matana 投稿日時: 2008-7-23 12:22:00 (2455 ヒット)

『電子顕微鏡JEM-2010 利用講習会のご案内』

総合科学研究支援センターでは、平成19年度より電子顕微鏡JEM-2010を導入し、共同
利用機器としての運用を始めております。
この度、利用者の拡大と装置の操作に対する理解を図るため、利用者講習会を開催す
ることに致しました。本講習会で実験操作に十分に習熟したと認められた方には、自
ら電子顕微鏡を操作できる使用許可を与えたいと考えています。
講習会は2日間に亘って行い、装置の概要説明、試料の準備の仕方、装置の調整の仕
方、写真の撮り方、現像の仕方などを予定しています。
実際に装置を操作しながらの講習となりますので、申し込み多数の場合は人数を調整
させていただく場合があります。予めご了承下さい。

ご希望の方は、森戸 茂一
(総合理工学部3号館510室,内線6102,e-mail: mosh@riko.shimane-u.ac.jp)
までメールでお申し込みください。また、ご不明な点が
ありましたら森戸までお問い合わせください。


      記

日時:
 8月18日(月)午前10:00~16:00
   19日(火)午前10:00~16:00
場所:総合理工学部大学院棟106号室南側
内容:
 (1日目)装置の概要説明および諸注意、試料のセットの仕方、軸あわせとピントの
合わせ方
 (2日目)観察と写真撮影、現像の仕方
対象者:
 本学の教職員,博士後期課程の学生
申込締め切り期限:
 8月4日(月)17:00


【電子顕微鏡 日本電子JEM-2010 -装置の概要-】
 材料開発や物性研究の分野を推進するために欠かせない、汎用性の高い電子顕微鏡
です。200kVの加速電圧を持ち分解能がおよそ2.5Aの透過型電子顕微鏡に元素分析機器
が附属しており、試料の微細構造観察はもちろんの事、ナノスケールの微小領域にお
いてCBED【収束電子回折】による結晶構造の精密解析(結晶の対称性,格子定数,格
子欠陥の同定)やEDS【エネルギー分散型X線分析】による局所領域の定量分析が容易
に行えます。これら顕微鏡像の観察と微小領域における精密分析は、独自のセレクト
システムによりワンタッチで切り替えが可能で、顕微鏡像上の特定の位置に絞った分
析が簡便に,効率良く行えるシステムとなっています。材料開発における検査・評価
のために,結晶の微細構造に起因した物性研究のために是非ご活用下さい。


注意:EDSは現在修理中で、8月末頃に復旧します。したがって、今回の講習会では
EDSの使い方の講習は行いません。


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Materials Analysis Division, ICSR, Shimane University 2008