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共同利用機器
部門からのお知らせ : 平成27年度 『X線回折装置 リガク Rint RapidII および SmartLab 利用講習会のご案内』
投稿者: matana 投稿日時: 2015-5-25 5:58:00 (2454 ヒット)

この度、共同利用機器であるX線回折装置「Rint RapidII」および「SmartLab」
の利用拡大と機器の操作に対する理解を図るため、利用者講習会を開催する
ことに致しました。
本機器の利用にあたっては当部門の講習を受けることが必要となりますので、
本機器を利用される予定がある方は是非ご参加ください。
本講習会に参加できない場合は個別にご相談ください。
講習会は3時間程度です。装置の概要説明、装置を安全に使うための基本手順
の実演などを予定しています。実際に装置を操作しながらの講習となります
ので、申し込み多数の場合は人数調整を行います。予めご了承下さい。

尚、「Rint RapidII」および「SmartLab」は平成20年度から22年度まで
文部科学省の特別教育研究経費および島根大学プロジェクト研究推進機構の
支援を受けて行われた通称「たたらプロジェクト」により導入されました。


ご希望の方は、
島根大学総合科学支援センター物質機能分析部門
林 泰輔 総合理工学部1号館大学院棟207室
内線3060,e-mail:thayashi@riko.shimane-u.ac.jp
まで下記雛形をもとにEメールでお申し込みください。
ご不明な点がありましたらお気軽に林までお問い合せください。


        記

日時:
6月8日(月)13~16時
6月9日(火)10~13時(火曜のみ午前)
6月10日(水)13~16時
内容は同じです。各回7名までの先着順となります。

場所:総合理工学部3号館122号室(1階南側)
内容:装置の説明,基本操作
対象者:本学の教職員,博士前期および後期課程の大学院生
 (院生の申込は担当教員が行ってください)
申込締め切り期限: 6月3日(水)17:00


X線回折装置について
2機種とも多結晶の粉末もしくは多結晶バルク試料平滑面からの回折
プロファイルの取得が主たる用途ですが、応力測定等の応用的な利用も
可能です。以下に各装置の概要を記します。

Rint RapidIIの概要

二次元検出器(IP)により2thetaプロファイルだけでなく、
広範囲の回折情報を同時取り込み可能です。ただし単結晶を用いた高精度な
構造決定用には向いていません.最小径0.03mmのコリメーターを組合せる
ことで微小領域からの回折情報を得ることが出来ます。また、
微小部の残留応力測定やテクスチャー測定に応用することも可能です。
最高800度の高温ステージも装着可能です。本講習では比較的簡便な,
微小領域からの2thetaプロファイルを得る手順について説明いたします。

SmartLabの概略

試料面が常に水平に固定されるtheta-2thetaゴニオメーター、X線源側に
ヨハンソン型モノクロメーター、検出器には一次元高速検出器D/teXを装備
しています。集中法による粉末からのtheta-2thetaプロファイル取得が
主な用途ですが、phi-chiアタッチメントゴニオも利用可能です。
集中法では完全な単色Cu-Ka1線を用いるのにもかかわらず、高速な測定が
出来るのが特徴です。他に、高温ステージ、低温ステージなどを備え、
様々な試験が可能です。本講習では高速高分解能測定が可能な粉末試料
からtheta-2thetaプロファイルを得る手順について説明いたします。


=====以下メール送付用の雛形=====

受講希望者氏名:
受講希望者氏名のふりがな:
受講希望者の職名または学年:
*以上は希望者が複数の場合,全員分記入してください。
受講希望者合計人数:  名
連絡先電話番号(内線等):
申込者氏名:
申込者氏名のふりがな:
所属部局と研究室(研究グループ):
代表責任者氏名:
(研究室であれば研究室の教員、複数の教員を含むグループであれば
教員の中から代表を一人決めて下さい)

希望日時:(以下記入例。参加可能な日程をすべて記入して下さい)
6月8日(月)可
6月9日(火)不可
6月10日(水)可

=====雛形終わり=====

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Materials Analysis Division, ICSR, Shimane University 2008