メニュー
共同利用機器
IM003
JEM2010.JPG
Infomation

  
ID3
装置名透過型電子顕微鏡
型式日本電子JEM-2010
管理者森戸 茂一
管理者所属総合理工学部 物質科学科
装置概要材料開発や物性研究に欠かせない、汎用性の高い電子顕微鏡です。200kVの加速電圧を持ち分解能が~2.5Åの透過型電子顕微鏡に元素分析機器が附属しており、試料の微細構造観察に加えて、ナノ領域においてCBED【収束電子回折】による結晶構造の精密解析(結晶の対称性,格子定数,格子欠陥の同定)やEDS【エネルギー分散型X線分析】による定量分析が行えます。これら顕微鏡像観察とナノ領域における精密分析はワンタッチで切り替えできる簡便・高効率な
Keyword

結晶・組織解析機器
  • 電子顕微鏡
Download Documents

Link


Materials Analysis Division, ICSR, Shimane University 2008