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共同利用機器
IM014
JEM2010.JPG
Infomation

  
ID14
装置名透過電子顕微鏡
型式日本電子社製JEM-2010
共同利用連絡先物質機能分析部門
設置部局総合理工学部 物理・マテリアル工学科
装置概要材料開発や物性研究に欠かせない、汎用性の高い電子顕微鏡。200kVの加速電圧を持ち分解能が~2.5Åの透過型電子顕微鏡に元素分析機器が附属しており、試料の微細構造観察に加えて、ナノ領域においてCBED【収束電子回折】による結晶構造の精密解析(結晶の対称性,格子定数,格子欠陥の同定)やEDS【エネルギー分散型X線分析】による定量分析が行えます。これら顕微鏡像観察とナノ領域における精密分析はワンタッチで切り替えできます。
Keyword

顕微鏡
  • 電子顕微鏡
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Materials Analysis Division, ICSR, Shimane University 2008